外部电压源法测试大电压LED器件/模块热阻  被引量:1

Measuring thermal resistance for high voltage LED device and module by applying external voltage source

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作  者:陈国龙[1] 朱丽虹[1] 郭自泉[1] 张纪红[1] 吕毅军[1] 高玉琳[1] 陈忠[1] 

机构地区:[1]厦门大学电子科学系,福建省半导体照明工程技术研究中心,福建厦门361005

出  处:《实验技术与管理》2013年第7期29-32,共4页Experimental Technology and Management

基  金:福建省重大科技项目(2011H6025);国家自然科学基金项目(11104230)

摘  要:热阻是衡量LED器件/模块散热性能的重要参数。针对大电压LED器件/模块,实验采用T3Ster/Teraled热光参数测试仪,利用外部电压源供电方法,实现了对超过仪器量程的大电压LED器件的热阻测试。该方法拓展了热阻测试仪的常规测量范围,使正向电压大于15V的LED器件/模块的热阻测试成为可能。Thermal resistance is a key parameter for evaluating thermal performance of LED device/module. Reliable measurement of thermal resistance becomes extremely important. Aiming at that the high voltage LED device/module has been applied popularly in lighting, an improved thermal resistance measurement method for LED device/module with forward voltage larger than 15V is achieved by applying external voltage soarce to the T3Ster/Teraled. The result shows that the external voltage source method can effectively expand the testing range of thermal resistance tester.

关 键 词:LED 热阻测量 阈值电压 电压源 

分 类 号:TN312.833[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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