检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:陈国龙[1] 朱丽虹[1] 郭自泉[1] 张纪红[1] 吕毅军[1] 高玉琳[1] 陈忠[1]
机构地区:[1]厦门大学电子科学系,福建省半导体照明工程技术研究中心,福建厦门361005
出 处:《实验技术与管理》2013年第7期29-32,共4页Experimental Technology and Management
基 金:福建省重大科技项目(2011H6025);国家自然科学基金项目(11104230)
摘 要:热阻是衡量LED器件/模块散热性能的重要参数。针对大电压LED器件/模块,实验采用T3Ster/Teraled热光参数测试仪,利用外部电压源供电方法,实现了对超过仪器量程的大电压LED器件的热阻测试。该方法拓展了热阻测试仪的常规测量范围,使正向电压大于15V的LED器件/模块的热阻测试成为可能。Thermal resistance is a key parameter for evaluating thermal performance of LED device/module. Reliable measurement of thermal resistance becomes extremely important. Aiming at that the high voltage LED device/module has been applied popularly in lighting, an improved thermal resistance measurement method for LED device/module with forward voltage larger than 15V is achieved by applying external voltage soarce to the T3Ster/Teraled. The result shows that the external voltage source method can effectively expand the testing range of thermal resistance tester.
分 类 号:TN312.833[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.222