MOS器件及电路的总剂量辐射效应测试技术解析  被引量:2

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作  者:陆时跃 

机构地区:[1]中国振华集团永光电子有限公司,贵州贵阳550018

出  处:《硅谷》2013年第12期50-50,49,共2页

摘  要:辐射是指线同物质之间的相互作用,文章对各种模拟源辐射环境的测量方法进行了分析,介绍了测试MOS器件及电路的总剂量辐射效应的技术,围绕实验进行讨论。

关 键 词:模拟辐射源 阀值电压 总剂量 MOS器件 辐射效应 

分 类 号:TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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引证文献:

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