集成电路引线焊接无损检测技术的研究  

作　　者：金琪琳 

机构地区：[1]哈尔滨飞洋工业自动化技术有限公司,黑龙江哈尔滨150000

出　　处：《黑龙江科技信息》2013年第21期99-99,共1页Heilongjiang Science and Technology Information

摘　　要：激光扫描声学显微镜(SLAM)是目前较先进的一种集成电路引线焊接无损检测技术。本文从集成电路的特点出发,浅要分析了集成电路阴险焊接无损检测技术的工作原理,并对激光扫描声学显微镜进行简单的模拟实验,以供参考。

关 键 词：集成电路 无损检测 SLAM 简单模拟试验 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]