高可靠性片上系统总线结构的参数优化  

Parameter Optimization of High-reliable Bus in System-on-Chip

作　　者：叶凝[1] 应忍冬[1] 朱新忠 李超 刘佩林[1] 

机构地区：[1]上海交通大学北斗导航与位置服务上海市重点实验室,上海200240 [2]上海航天计算机技术研究所,上海200050

出　　处：《计算机与现代化》2013年第9期190-194,198,共6页Computer and Modernization

基　　金：国家863计划基金资助项目(2011AA120201);上海航天基金资助项目(HTJ10-14)

摘　　要：为加强航天器片上系统面对单粒子效应引发的软错误时的健壮性,针对片上系统的总线,建立出错率的模型与总线可靠性公式。然后分3种情况,结合参数的取值约束范围,讨论参数的最优化取值,分别给出3种情况下使总线获得最高可靠性的参数取值。In order to enhance the robustness of SoC against single event effect （SEE）,we focused on the improving of reliability for bus on chip.We built models for error rate of bus and equations of bus reliability.Concerning three situations,we restricted the value of parameters and thus,discussed the optimization of the parameters.For each of the situation,we give the optimized value of parameters that brings us the highest reliability for bus on chip.

关 键 词：单粒子效应 可靠性 建模 参数优化 

分 类 号：TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]