集成电路三温测试数据在失效分析中的应用  

Application of Three-Temperature Test Data in ICs Failure Analysis

作　　者：李兴鸿[1] 赵俊萍[1] 赵春荣[1] 

机构地区：[1]北京时代民芯科技有限公司,北京100076

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2013年第5期1-5,共5页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：在集成电路的失效分析中,测试数据有非常重要的作用。从集成电路的三温电性能测试数据出发,论述了电性能测试数据与集成电路基本元器件参数的关系,对理清分析思路和揭示集成电路失效的根本原因有一定的帮助。Test data play an important role in ICs failure analysis. Relationship between the electrical performance test data and the parameters of ICs basic components is discussed from the electrical performance test data of ICs under three-temperature. It helps to clarify thoughts and reveal root cause of ICs failure.

关 键 词：测试数据 集成电路 失效分析 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]