片上Flash测试接口的设计  

Test Interface Design for On-chip Flash

作　　者：杨阳[1] 宋明歆[1] 朱学亮[2] 

机构地区：[1]哈尔滨理工大学,黑龙江哈尔滨150080 [2]中国电子科技集团第58研究所,江苏无锡214000

出　　处：《微电子学与计算机》2013年第12期100-103,共4页Microelectronics & Computer

基　　金：2011年度黑龙江省青年科学基金(QC2011C087)

摘　　要：提出了一种DSP上嵌入式Flash存储器的测试接口设计.结合对Flash IP接口分析以及测试的要求,实现了测试接口引脚复用设计和接口逻辑转换的设计,设计在减少测试引脚数量的同时准确并完整地实现了对片上Flash的测试,满足了设计的可测试性.通过NCsim仿真验证,设计达到了测试要求,并成功应用于一款32位定点DSP芯片中.A new kind of test interface for embedded Flash IP of DSP on chip is presented in this paper . By analyzing the interface of Flash IP and the test requirement , we realize the pin multiplexing logic design and the address/data converter logic design. The design reduces the number of test pins while accurately and completely test the on-chip Flash, meeting testability of the design. Simulation by Ncsim , the design meet the testing requirements, and successfully applied to a 32--bit fixed--point DSP.

关 键 词：FLASH 测试接口 DSP复用 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]