杨阳

作品数：2被引量：3H指数：1
导出分析报告
供职机构：哈尔滨理工大学更多>>
发文主题：DSP复用FLASH遗传算法测试生成算法更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《微电子学与计算机》更多>>
所获基金：黑龙江省青年科学基金黑龙江省自然科学基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-2
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
片上Flash测试接口的设计被引量：3
《微电子学与计算机》2013年第12期100-103,共4页杨阳 宋明歆 朱学亮 
2011年度黑龙江省青年科学基金(QC2011C087)
提出了一种DSP上嵌入式Flash存储器的测试接口设计.结合对Flash IP接口分析以及测试的要求,实现了测试接口引脚复用设计和接口逻辑转换的设计,设计在减少测试引脚数量的同时准确并完整地实现了对片上Flash的测试,满足了设计的可测试性....
关键词：FLASH 测试接口 DSP复用 
基于三值神经网络的组合电路测试生成算法
《伺服控制》2011年第8期64-66,共3页吴丽华 王旭东 沃晓丹 杨阳 
黑龙江省自然基金项目(编号:F201026)
针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难的问题,本文提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量...
关键词：三值神经网络 测试生成算法 遗传算法 能量函数 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部