某型导弹发射装置随动测试故障分析解决方案  

Failure analysis and solutions of follow-up test for one guided missile launcher

作　　者：王冰 王孝勃 

机构地区：[1]海军装备部,陕西西安710077 [2]中航工业集团公司,陕西西安710077

出　　处：《物联网技术》2013年第12期31-33,共3页Internet of things technologies

摘　　要：就某型导弹发射装置中1553B总线通信异常导致的随动测试故障进行了分析,给出了该随动测试故障形成的原因,同时给出了这种故障的纠正解决方案及其有效性验证结果。The error of follow-up test caused by the abnormal 1553B bus communication in one guided missile launcher is analyzed. The reason for the error is found out, and at the same time the correct solution for the error the verification results of the effectiveness are given.

关 键 词：MIL-STD-1553B总线 BU-61580总线接口芯片 RT终端 闩锁效应 总线耦合器 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]