测量断口分维的变分辨率码尺方法  

作　　者：李启楷 张跃[2] 等 

机构地区：[1]技术中心 [2]北京科技大学

出　　处：《冶钢科技》1999年第1期65-69,共5页

摘　　要：本文提出了测量断口分维的变分辨率码尺方法，并利用Weierstrass-Mandelbrot理论分形曲线对变分辨率码尺方法与传统的变码尺方法进行了对比。结果表明，变分辨率码尺方法优于传统的变码尺方法。用扫描隧道显微镜（STM）利用变分辨率码尺方法在纳米惊讶测定了Ti3Al,Ti-24Al-11Ng合金断口的分形维数。断裂表面在纳米尺度上存在分形结构，但不同断裂方向的分形维数不同。Ti-24Al-11Nb合金的分形维数高于Ｔi3Al合金的分形维数。

关 键 词：金属断口分析 STM 分形维数 变分辨率码尺 方法 

分 类 号：TG115[金属学及工艺—物理冶金] O415.5[金属学及工艺—金属学]