介孔分子筛的孔结构表征及其分析  

作　　者：龚彩云[1] 周冬雪[1] 刘洋[1] 张倩倩[1] 

机构地区：[1]辽宁师范大学化学化工学院,116021

出　　处：《中国科技博览》2014年第6期87-87,共1页China Science and Technology Review

摘　　要：介孔分子筛的研究已成为当今材料科学研究领域的一大热点，而介孔材料的研究离不开结构表征分析。介孔材料的表征常用X射线小角度衍射法（XRD）、气体吸附法、电子显微镜观察法等。重点介绍了这些表征方法对多孔材料的孔道有序性、孔形态、比表面积和孔体积及孔径等的表征分析应用，最后简单介绍了孔结构表征的新方法。

关 键 词：介孔材料 吸附 XRD BET 电镜分析 

分 类 号：O643.36[理学—物理化学]