薄膜材料光学参量的测量  

作　　者：王艳辉[1] 段家忯[2] 姚坤[2] 童玉珍[2] 张国义[2] 

机构地区：[1]大连理工大学物理系,116023 [2]北京大学物理系,100087

出　　处：《物理实验》2000年第10期13-15,共3页Physics Experimentation

摘　　要：介绍了薄膜材料光学参量测量实验的原理和方法以及对 Ga N膜的测量结果 .

关 键 词：薄膜材料 光学参量 光谱仪 透过率 氮化镓 

分 类 号：O484.41[理学—固体物理]