微波功率器件动态寿命试验方法和技术研究  

Study on Dynamic Lifetime Testing Technology of Power Microwave Devices

作　　者：来萍[1] 荣炳麟[2] 冯敬东[1] 范国华[2] 金毓铨[2] 钟志新[2] 张晓明[1] 

机构地区：[1]中国电子产品可靠性与环境试验研究所,广州510610 [2]南京电子器件研究所,210016

出　　处：《固体电子学研究与进展》2001年第1期82-86,共5页Research & Progress of SSE

摘　　要：介绍了对微波功率器件开展的动态加速寿命试验方法和技术的研究。主要阐述了实现振荡式微波动态寿命试验的方法 ,以及不同于常规的对受试功率器件进行内部式加热控温的技术研究。This paper introduces the study on dynamic lifetime testing technology of power microwave devices. It details the dynamic testing method under microwave oscillation, and the inside heating up technique for tested devices which is different from ordinarily methods.

关 键 词：微波功率器件 寿命试验 动态加速 

分 类 号：TN306[电子电信—物理电子学]