关于发射光谱仪检定规程的实践与探讨  

作　　者：曲洪波 

机构地区：[1]黑龙江省计量科学研究院

出　　处：《中国计量》2014年第5期103-106,共4页China Metrology

摘　　要：电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP—AES／ICP—OES）、直读光谱仪、摄谱仪3类设备广泛应用于冶金、化工、地质、环保、生物医药、食品、制造、质检及科研机构等领域。随着科技水平的提高，各种发射光谱仪层出不穷，为了适应其快速发展，解决不同类型光谱仪的检定校准问题，我国于2006年3月5日正式实施JJG768—2005（（发射光谱仪计量检定规程》，为上述仪器的检定提供依据。

关 键 词：电感耦合等离子体发射光谱仪 计量检定规程 直读光谱仪 生物医药 科研机构 检定校准 ICP AES 

分 类 号：TH744.1[机械工程—光学工程]