基于A567进行运算放大器DC参数测试技术研究  

作　　者：孙丽军[1] 许清平[1] 

机构地区：[1]中国空空导弹研究院,河南洛阳471000

出　　处：《数字技术与应用》2014年第3期59-60,共2页Digital Technology & Application

摘　　要：运算放大器作为一种通用器件,其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题,需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例,对运算放大器的测试理论及技术进行了分析,并提出了一种新的测试实现方式。

关 键 词：A567测试系统 运算放大器 测试 

分 类 号：TN722[电子电信—电路与系统]