许清平

作品数：5被引量：8H指数：2
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供职机构：中国航空工业集团公司中国空空导弹研究院更多>>
发文主题：EXPRESS语言故障诊断故障树MOS器件静电放电模型更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术兵器科学与技术化学工程更多>>
发文期刊：《计测技术》《数字技术与应用》《计算机测量与控制》《电子产品可靠性与环境试验》更多>>
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基于IEEE1232的故障树诊断模型研究被引量：5
《计算机测量与控制》2014年第11期3457-3459,共3页李念念 许清平 王卫栋 
IEEE1232对广义测试环境下的诊断知识进行了标准化描述,从而保证了诊断知识和数据的可移植和互操作;故障树分析作为被广泛应用的故障诊断方法,却很少有标准像IEEE1232一样对其具体应用进行详细规范,因此分析建立基于该标准的故障树诊断...
关键词：IEEE1232 故障树 故障诊断 EXPRESS语言 
集成电路测试平台需求趋势分析
《数字技术与应用》2014年第3期202-203,共2页孙丽军 许清平 
随着半导体科技的不断发展和进步,集成电路的集成度越来越高,对测试平台的需求也在不断变化。本文以十二五计划为时间节点,回顾之前国内测试设备选型历程,并分析了测试平台的发展趋势,对测试平台的选型给出了建议。
关键词：集成电路测试平台 选型分析 
基于A567进行运算放大器DC参数测试技术研究被引量：1
《数字技术与应用》2014年第3期59-60,共2页孙丽军 许清平 
运算放大器作为一种通用器件,其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题,需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例,对运算放大器的测试理论及技术进行了分析,并提出...
关键词：A567测试系统 运算放大器 测试 
MOS器件的ESD失效被引量：2
《电子产品可靠性与环境试验》2011年第6期64-67,共4页赖忠有 许清平 
静电放电(ESD)对半导体器件,尤其是金属氧化物半导体(MOS)器件的影响日趋凸显,而相关的研究也是备受关注。综述了静电放电机理和3种常用的放电模型,遭受ESD应力后的MOS器件失效机理,MOS器件的两种失效模式;总结了ESD潜在性失效灵敏表征...
关键词：金属氧化物半导体器件 静电放电模型 静电防护 
导弹安保机构测试系统的设计与实现
《计测技术》2009年第4期27-30,共4页孙丽军 许清平 崔钦 
针对某型空空导弹安全和解除保险机构,利用计算机及高新技术,实现了安保机构的高精度、高准确性和高效率的测试。较详细地介绍了安全和解除保险机构自动测试系统的硬件设计、软件设计及抗干扰措施。实践表明,该系统具有较高的测试精度...
关键词：安全和解除保险机构 离心机 自动化测试 组态软件 
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