新一代模拟/混合IC测试系统STS8250——访北京华峰测控技术有限公司AccoTEST事业部STS8250主设计师周鹏先生  

作　　者：王喜莲[1] 

机构地区：[1]《中国集成电路》编辑部

出　　处：《中国集成电路》2014年第5期13-14,共2页China lntegrated Circuit

摘　　要：在Semicon China 2014后的一周,我来到近年来在国内测试机行业做得风生水起的北京华峰测控技术有限公司,并采访了该公司在这次Semicon China 2014上最新展出的AccoTEST新一代模拟/混合IC测试系统的主设计师之一的年轻的周鹏先生,同时周鹏也是北京华峰测控技术公司的总工程师。这也是本刊连续3年对华峰测控公司的AccoTEST事业部进行跟踪报道的一次采访。之前已采访报道了公司经营、市场策略和运作;这次专访周总,我们来听听他是如何看待产品、技术和未来发展的吧。

关 键 词：测控技术 测试系统 混合IC 设计师 北京 事业 模拟 SEMICON 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]