存储器测试算法及诊断覆盖率研究  

作　　者：陈金鸿[1] 谢亚莲[2] 

机构地区：[1]上海理工大学,上海200090 [2]上海工业自动化仪表研究所,上海200233

出　　处：《企业技术开发（下旬刊）》2014年第4期9-10,共2页Technological Development of Enterprise

摘　　要：随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。

关 键 词：存储器 测试算法 诊断覆盖率 

分 类 号：TP333.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构]