GaAs/AlGaAs量子阱红外探测器件表征系统研制  

Automatic Measurement System of Characterization of GaAs/AlGaAs QWIP

作　　者：江俊[1] 李宁[1] 陆卫[1] 

机构地区：[1]中科院上海技术物理研究所,红外物理国家实验室上海200083

出　　处：《红外技术》2001年第2期8-10,16,共4页Infrared Technology

摘　　要：介绍量子阱红外探测器件 (QWIPs—QuantumWellInfraredPhotodetectors)以及器件的基本性能表征测量系统的研制。利用通用接口总线GPIB(GeneralPurposeInterfaceBus) ,将多台测试仪器与微机连接。分别用LABVIEW和LABWINDOWS/CVI两种开发平台进行程序编写 ,遥控测量仪器 ,控制微机自动采集和处理数据实时绘制曲线 ,对本项工作自行研制的GaAs/AlGaAs量子阱红外探测器件进行了基本性能的检测 ,实现器件主要特性—I V曲线的自动测量。This paper describes the design and realization of an automatic mesurement system for characterization of GaAs/AlGaAs QWIP device by computer. Control the apparatus to aquire the characteristic datas automaticly by programmed via GPIB(IEEE 488) interfaces.the program was developed by LABVIEW and LABWINDOWS/CVI.

关 键 词：GAAS/ALGAAS 量子阱 红外探测器件 砷化镓 表征系统 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]