电脑智能型库仑测厚仪的发展历程  

Review on the progress of computationally intelligent coulometric thickness tester

作　　者：凌国伟[1] 李光 

机构地区：[1]武汉材料保护研究所,湖北武汉430030 [2]武汉恒顺材料表面技术中心,湖北武汉430017

出　　处：《电镀与涂饰》2014年第12期535-540,共6页Electroplating & Finishing

摘　　要：回顾了过去10年电脑智能型库仑测厚仪的发展,介绍了其技术特点、技术路线以及应用实例,展望了今后的发展。The development history of computationally intelligent coulometric thickness tester in the last ten years was reviewed. The characteristics, technical route, and application examples were introduced. Some future prospects were described.

关 键 词：镀层 厚度 测量 库仑法 仪器 电脑智能 

分 类 号：TQ150.5[化学工程—电化学工业] TQ153