模块结构的SOC集成电路测试系统  

作　　者：钟信 

出　　处：《电子测试》2001年第4期196-198,共3页Electronic Test

摘　　要：根据不完全的统计,从1980年代开始集成电路的工艺快速更新换代,集成度按摩尔定律每18个月增加一倍,此增长势头将会延续至2010年.相应生产每晶体管成本从0.5美分下降至2000年的0.001美分,而测试每个晶体管成本只从0.4×10-4美分,下降至0.08×10-4美分,前者降低500倍,后者只降低5倍.据推算可知,到2010年以后晶体管成本与测试成本会很接近.

关 键 词：模块结构 芯片系统 集成电路测试系统 SOC 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]