全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术  

作　　者：田宇宏[1] 

机构地区：[1]中国科学院近代物理研究所

出　　处：《核物理动态》1991年第2期41-44,共4页

摘　　要：全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。

关 键 词：全反射 X荧光分析 TRXF 

分 类 号：O657.3[理学—分析化学]