田宇宏

作品数：2被引量：2H指数：1
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发文主题：全反射高灵敏度分析技术X射线荧光分析TXRF更多>>
发文领域：理学更多>>
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低含量多元素物质的快速全反射X荧光分析
《光谱实验室》1999年第3期243-246,共4页田宇宏 刘恺 邬旭然 郑素华 王景云 马国立 
本文介绍了用全反射Ｘ荧光分析仪对样品量很少、元素含量很低、多元素溶液的分析，测定了从含量最多的Ｎａ（２４３μｇ／ｍＬ）到含量最少的Ｃｕ（０．０６μｇ／ｍＬ）的１２种元素。
关键词：全反射 元素分析 X射线荧光分析 TXRF 
全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术被引量：2
《核物理动态》1991年第2期41-44,共4页田宇宏 
全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期...
关键词：全反射 X荧光分析 TRXF 
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