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作 者:唐建民[1] 刘振伟[1] 丁爱石[1] 王福庄[1]
机构地区:[1]北京军事医学科学院基础医学研究所,大庆职工医学院病理生理教研室
出 处:《中国应用生理学杂志》1996年第2期165-169,共5页Chinese Journal of Applied Physiology
基 金:国家自然科学基金;中国科学院低氧生理开放实验室资助
摘 要:本实验在海马脑片采用微电极记录技术,观察了缺氧损伤电位(HIP)的电生理特性,并研究了其产生机制。实验结果表明:①HIP是突触在缺氧过程中功能暂时恢复的反应;②随着缺氧程度的加重,HIP出现时间前移,持续时间缩短;③HIP的出现表明突触功能的丧失发生在突触膜损伤之前,其消失代表突触传递不可逆性损伤的发生,即突触膜损伤的开始;④大剂量腺苷不能阻止HIP的产生,表明HIP的出现不是由于腺苷浓度的降低。Electrical properties and mechanisms of hypoxic injury potential(HIP)were studied in areaCA1 pyramidaI neurons from rat hippocampal slices by means of microelectrode technique,Theresults indicated that(1)HIP was a transient recovery of synaptic function during hypoxia;(2)HIP occurred earlier and its duration was shortened when hypoxia was aggravated;(3)thesynaptic membrane was not damaged by hypoxia untiI HIP disappeared;(4) high dose ofadenosine failed to block the appearance of HIP,indicating that the reduction of adenosine didnot account for the appearance of HIP.
分 类 号:R741.02[医药卫生—神经病学与精神病学] R594.302[医药卫生—临床医学]
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