三种检材的直接免疫荧光检查诊断口腔天疱疮  

Diagnosis of oral pemphigus by direct immnofluorescence on three different samples

作　　者：朱越广[1] 赵华婷[1] 李伯友[2] 

机构地区：[1]中山医科大学孙逸仙纪念医院口腔科,广州510120 [2]中山医科大学孙逸仙纪念医院皮肤科,广州510120

出　　处：《广东医学》2001年第5期399-400,共2页Guangdong Medical Journal

摘　　要：目的　对口腔损害的黏膜组织、损害缘的分离上皮组织 (不含基底细胞层 )、损害面的脱落细胞涂片作直接免疫荧光 (DIF)检查 ,以评估这 3种检材对诊断天疱疮的可靠性。方法　收集 2 8例口腔天疱疮 ,每一患者同时作上述 3种取材的DIF检查。结果　 2 8例黏膜组织及分离上皮组织标本的DIF检查全部阳性 (IgG) ,而 2 8例脱落细胞涂片标本只有 2 4例阳性 (IgG)。结论　黏膜组织与分离上皮组织作DIF检查以诊断天疱疮 ,两者的可靠性相同 ,但后者取材明显比前者容易 ;脱落细胞涂片作DIF检查的可靠性差 ,不宜作诊断天疱疮的DIF底物。

关 键 词：口腔黏膜组织 分离上皮 直接免疫荧光检查 天疱疮 DIF 

分 类 号：R781.5[医药卫生—口腔医学] R758.66[医药卫生—临床医学]