纳米精度外差椭偏仪的研制  

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作  者:巨养锋[1] 阮双琛[1]  

机构地区:[1]深圳大学工程技术学院,深圳518060

出  处:《光子学报》2000年第Z01期134-139,共6页Acta Photonica Sinica

摘  要:本文介绍了各种椭偏仪的原理及性能,重点对外差式椭偏仪进行介绍,并对提出的几种外差透射椭偏仪的原理进行了实验验证。

关 键 词:椭偏仪 薄膜 测量 外差干涉 

分 类 号:TH744.21[机械工程—光学工程]

 

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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