半导体激光器特性微机测量系统  

Computer-controlled testing system for diode laser characteristics

作　　者：高放[1] 张济础 单振国[2] 符祖良 

机构地区：[1]上海电视大学嘉定分校 [2]中国科学院上海光学精密机械研究所

出　　处：《激光技术》1991年第6期370-374,共5页Laser Technology

基　　金：国家自然科学基金项目中间成果

摘　　要：建立了一个微机控制的 LD 特性测量系统。本文重点介绍了系统设计、各部件的功能和有关软件,并且给出了若干实验结果。实验表明,微机测试技术比原有的测试技术好得多,在半导体激光器的制造和应用领域有着广泛的用途。A computer controlled system for measuring diode laser characteristics is built up.In this paper,the system design,component function,software design,etc.are emphasized.A series experimental results are given.The results showy that the computer testing technique is much better than previcus testing technique and very useful for di- ode laser manufacture and application.

关 键 词：半导体激光器 激光器 微机 测量 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]