集成电路测试机发展简史  

作　　者：郭瑞振 李定学 

机构地区：[1]台湾德律科技股份有限公司 [2]德律泰上海办事处

出　　处：《集成电路应用》2001年第3期18-18,46,共2页Application of IC

摘　　要：本文介绍了集成电路测试机(IC TESTER)的发展简史,包括第一台测试机到目前的第三代测试机的主要特点,可以看出集成电路测试机的发展方向。

关 键 词：集成电路 测试机 PCB 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]