用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的新电路  

A Novel Circuit for Testing Output Driver Current Slew Rate

作　　者：徐栋麟[1] 郭新伟[1] 徐志伟[1] 任俊彦[1] 

机构地区：[1]复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海200433

出　　处：《Journal of Semiconductors》2001年第8期1075-1080,共6页半导体学报（英文版）

摘　　要：提出了一种新的用于测试 CMOS输出驱动器电流变化率的电路结构 .它把片上电感引入到测试系统中作为对实际封装寄生电感的等效 ,从而排除了测试时复杂的芯片 -封装界面的影响 .这种电路结构不仅可以用于实际测算输出驱动器的性能指标 ,还可以用于研究 VL SI电路中的同步开关噪声问题 .该设计方法在新加坡特许半导体公司的 0 .6μm CMOS工艺线上进行了流片验证 .测试结果表明 ,这一测试结构能有效地表征 CMOS输出驱动器的电流变化率的性能指标和 VLWith on-chip inductance,a novel circuit i s proposed to test the current slew rate of the output pads.This package-insens itive testing scheme can be used to evaluate the current slew rate of the output drivers as well as the SSN in CMOS VLSI systems.Analysis,simulation and exp eriment are presented.

关 键 词：输出驱动器 电流变化率 CMOS VLSI 集成电路 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]