铜锌合金锥套的扫描电镜失效分析  

Failure analysis with scanning electron microscopy for taper sleeve of Cu-Zn alloy

作　　者：刘安生[1] 王晓华[1] 王永兰[1] 

机构地区：[1]北京有色金属研究院,北京100088

出　　处：《电子显微学报》2001年第4期422-423,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：铁路电气化工程 铜锌合金锥套 失效分析 开裂破损 扫描电镜 断裂分析 

分 类 号：TG115[金属学及工艺—物理冶金]