电子设备的雷电浪涌抗扰性试验  

SURGE IMMUNITY TESTS FOR ELECTRONIC DEVICES

作　　者：方志[1] 邱毓昌[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电气工程学院,陕西西安710049

出　　处：《高压电器》2001年第4期18-19,共2页High Voltage Apparatus

摘　　要：本文针对电子设备中普遍存在暂态过电压这一事实 ,介绍了暂态过电压的发生率和IEC标准中对低压设备做雷电浪涌抗扰性试验的电磁兼容和绝缘配合的要求 。Transient overvoltages are a common phenomenon in electronic devices. The occurrence rate of transient overvoltages, the test requirements of electromagnetic compatibility and insulation coordination specified in IEC standards are presented in this paper. A schematic circuit for this kind of test are also presented.

关 键 词：电子设备 雷电浪涌 抗扰性 试验 电磁兼容 

分 类 号：TM866[电气工程—高电压与绝缘技术]