边界扫描测试的原理及应用设计  

The Principle Of Boundary-Scan Testing And Its Application Design

作　　者：宋克柱[1] 杨小军[1] 王砚方[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学近代物理系,合肥230027

出　　处：《电子技术（上海）》2001年第10期29-32,共4页Electronic Technology

摘　　要：文章介绍了边界扫描测试的原理 ,分析了联合测试行动组JTAG控制器的逻辑状态 ,并给出了JTAG测试具体应用的VHDL原代码和逻辑仿真波形。利用JTAG接口可以方便地进行复杂IC芯片连接的故障定位 ,灵活控制IC芯片进入特定的功能模式等。

关 键 词：边界扫描测试 JTAG控制 可编程逻辑器件 印刷电路板 工作原理 

分 类 号：TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]