多孔硅表面的激光解吸离子化质谱  

Desorption/Ionization Mass Spectrometry on Porous Silicon

作　　者：张清春[1] 邹汉法[1] 张强[1] 郭忠[1] 姜泓海[1] 倪坚毅[1] 陈小明[1] 

机构地区：[1]中国科学院大连化学物理研究所国家色谱研究分析中心,大连116011

出　　处：《分析化学》2001年第12期1365-1369,共5页Chinese Journal of Analytical Chemistry

基　　金：国家杰出青年基金资助项目 (No .2 972 5 5 12 )

摘　　要：多孔硅表面的解吸离子化质谱是一种新的生物质谱分析方法。克服了MALDI TOF MS中的基体干扰 ,适合进行小分子分析。提出了新的样品制备方法 ,可以扩大测定范围 ,消除吸附杂质的干扰。发现该方法与多孔硅的光致发光特性及表面疏水性无关。具有纳米结构的多孔硅作为该方法中能量的接收器。利用DIOS方法分析了氨基酸、肽、蛋白、糖等样品。此方法用于环糊精合成产物的分析 。Desorption/ionization on porous silicon surface (DIOS) is a novel matrix-free method for the analysis of small molecule, which overcomes the limitation of matrix-assisted laser desorption/ionization in low-molecule analysis. With this technique, some amino acids, peptides and protein were analyzed and the product of derivative reaction of cyclodextrin was examined.

关 键 词：多孔硅 解吸离子化质谱 小分子分析 生物分子 氨基酸 肽 蛋白质 糖 环糊精 

分 类 号：O657.63[理学—分析化学]