基于嵌入式MCU的计算器电路的可测性设计  

Design for testability about calculator circuit based on embeded-system

作　　者：居水荣 

机构地区：[1]无锡华晶矽科微电子有限公司设计所,江苏无锡214061

出　　处：《半导体技术》2001年第9期54-58,共5页Semiconductor Technology

摘　　要：给出了两种可测性设计方法，详细介绍了基于 ４位嵌入式 ＭＣＵ的计算器电路的可测性设计，包括ＲＯＭ内容测试和模块划分，通过这些设计，大大提高了电路的可控制性和可观察性。Two methods about design for testability are given. The design for testability about calculator circuit based on 4-bit embedded-system is introduced include module division and ROM content testing. This technique provides both controllability and observability.

关 键 词：嵌入式MCU 可测性设计 计算器 

分 类 号：TP323[自动化与计算机技术—计算机系统结构]