系统单芯片测试之趋势及未来挑战  

作　　者：林品旭 谢欣颖 江衍绪 

机构地区：[1]安捷伦科技

出　　处：《集成电路应用》2001年第6期30-32,共3页Application of IC

摘　　要：2 嵌入式内存之测试 SOC可提升系统性能、减少耗能与电磁干扰EMI问题、降低封装测试与空间成本,以符合产业缩小尺寸与轻薄短小的趋势,在许多应用上SOC皆已成为主要的研究方向,例如处理器、移动电话、调制解凋器等产品。这类SOC芯片整合了数字逻辑、模拟电路。

关 键 词：系统芯片 集成电路 测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]