薄层色谱-质谱联用技术及其进展  

HYPHENATION OF TLC AND MS AND ITS RECENT ADVANCES

作　　者：董慧茹[1] 张建军[1] 

机构地区：[1]北京化工大学理学院,北京100029

出　　处：《理化检验（化学分册）》2001年第9期430-434,共5页Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)

摘　　要：概述了薄层色谱同质谱的联用 (TLC MS)技术及其进展 ,着重介绍了TLC MS联用技术中的多种接口及已经开始广泛使用的几种较先进的电离方法。A review of the hyphenation of TLC and MS is given in this paper, emphasizing especially on different ways of interface in hyphenation technique and on some advanced methods of ionization (with 48 references).

关 键 词：TLC-MS 接口 薄层色谱 质谱 联用技术 电离方法 

分 类 号：O657.63[理学—分析化学] O657.7[理学—化学]