测试向量最大压缩技术  

Method of Maximal Compaction Test Pattern

作　　者：曾成碧[1] 段述江[1] 陈光 

机构地区：[1]四川大学电气信息学院,四川成都610065 [2]电子科技大学CAT室,四川成都610054

出　　处：《四川大学学报（工程科学版）》2001年第6期94-96,共3页Journal of Sichuan University (Engineering Science Edition)

摘　　要：描述了基于可满足性的测试向量压缩的整数线性规划 (ILP)模型 ,求解整数线性规划采用 0 - 1加法算法。由ISCAS85标准电路实验结果的比较说明 ,这种压缩测试向量的方法非常有效。Integer linear programming (DLP) formulation which builds on an existing prepositional satisfiability (SAT) model for test pattern generation is described, under the additional constraint that the number of specified primary input assignments is minimized. The proposed solution is based on 0-1 algorithm. The results on benchmark circuits show the practical applicability of the test pattern minimization model.

关 键 词：组合电路 整数线性规划 0-1算法 压缩测试质量 测试压缩技术 测试生成模型 

分 类 号：TN79[电子电信—电路与系统] TN707