钽电容器和独石电容器应用中的失效分析  

Failure Analysis of Tantalum Capacitor and Monolithic Capacitor in Application

作　　者：樊晓团[1] 胡圣[1] 

机构地区：[1]西安微电子技术研究所,西安710054

出　　处：《电子元器件应用》2001年第10期16-18,共3页Electronic Component & Device Applications

摘　　要：通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论:(1) 钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致內部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;(2) 通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找出独石瓷介电容器內部的质量问题在于介质中的缺陷,导致电极材料局部突起,以至发生离子迁移或短路失效。The paper describes the failure phenomena in application of tantalum capacitor/monolithic capacitor, and analyzes the cause of failure.

关 键 词：固体电解质钽电容器 多层独石瓷介电容器 失效分析 

分 类 号：TM535[电气工程—电器]