SOC嵌入式数字IP核通用测试方法  

A Universal Embeded Digital IP Core Testing Method

作　　者：马昕煜 徐瀚洋 王健[1] MA Xin-yu;XU Han-yang;WANG Jian(State Key Laboratory of ASIC & System,Fudan University,Shanghai 201203)

机构地区：[1]复旦大学专用集成电路和系统国家重点实验室,上海201203

出　　处：《微电子学与计算机》2019年第2期26-30,共5页Microelectronics & Computer

基　　金：国家级军口项目资助(1067GK0064)

摘　　要：本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此来提供丰富的IP核测试控制以及观测模式;测试软件兼容符合IEEE1687的测试数据,可做到无需修改测试图形文件即可自动完成测试、提取诊断信息.为了验证本方法的有效性,我们在FPGA上实现并测试了多种异构IP核和大量的同构IP核,在整个测试过程中,该测试方法在保证支持国际主流测试标准、具有较高的测试自动化程度的同时,利用其通用性简化了数字IP核的测试集成和复用过程.This paper presents a general,low cost embedded IP core testing method based on IEEE standards.Only by redefining the number and name of under-test IP cores,the method can automatically generate test wrappers for various digital IP cores.The test wrapper supports all 11 instructions specified in the IEEE 1500 standard,thereby providing ample IP core test control and observation modes.The test software is IEEE1687-compatible,when the IP core is tested in different SOC designs,it can automatically complete the test and extract diagnostic information without modifying the test pattern.In order to verify this method,we implemented and tested a variety of heterogeneous IP cores and a large number of homogeneous IP cores on FPGA.This test method simplifies the test integration and reuse process of the digital IP cores by supporting mainstream IEEE test standards and providing a high degree of test automation.

关 键 词：IEEE1500 IEEE1687 IP核测试 RAM 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]