利用椭圆偏振光谱法研究硅片上DNA分子杂交  

The Study of DNA Hybridization on Silicon Substrate by Ellipsometric Spectroscopy

作　　者：符维娟[1] 李晶[1] 冀敏[1] 周鲁卫[1] 周仕明[1] 

机构地区：[1]复旦大学应用表面物理国家重点实验室物理系,上海200433

出　　处：《复旦学报（自然科学版）》2002年第2期192-195,共4页Journal of Fudan University：Natural Science

摘　　要：将单晶硅片硅烷化后 ,用戊二醛做醛基修饰 ,将 5′端氨基修饰寡核苷酸探针片段通过醛 氨共价键结合在硅片上 ,然后用椭圆偏振光谱法对探针和不同序列样品的杂交反应进行了研究 .结果表明该方法能在不对样品进行荧光标记的情况下直接研究杂交反应的效率 ,从而得知样品的序列信息 .The paper describes a test of the oligo DNA probe and sample hybridization on the silicon susbstrate.First,a chip of single crystal silicon is silanized,and modified with glutaraldehyde.Then the oligo DNA probe is bonded to silicon chip covalently by aldehyde amido.The hybridization of probe and sample on the silicon surface is studied with ellipsometric spectroscopy.The results show that this method can directly study the hybridization without fluorescence lableling.

关 键 词：硅片 DNA分子 椭圆偏振光谱 寡核苷酸 探针 样品 杂交 

分 类 号：Q523[生物学—生物化学] O433.5[机械工程—光学工程]