H^+离子在固体中的电子俘获  

作　　者：杨百方[1] 缪竞威[1] 杨朝文[1] 师勉恭[1] 唐阿友[1] 刘晓东[1] 高小观[1] 代云方[1] 袁其清[1] 姜忠友[1] 李忠培[1] 李道德[1] 

机构地区：[1]四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室原子核科学技术研究所,成都610064

出　　处：《中国科学（A辑）》2002年第4期348-354,共7页Science in China(Series A)

基　　金：国家自然科学基金资助项目(批准号:19975033;19735004;19975034)

摘　　要：在0.6,0.9,1.2,1.6和1.8MeV的能量下,测量了H+离子在不同厚度的碳膜中产生的中性产物H和负离子产物H-的产额φ(H)和φ(H-).测量结果表明,在相同的能量φ(H)和φ(H-)都是常数,而且φ(H)比φ(H-)大几个数量级.分析了H+在固体中运行时不断地俘获和损失电子的电荷交换过程.证明快离子在固体中确实存在这个过程,并得到了电荷交换截面比的经验公式.

关 键 词：H^+离子 固体 电子俘获 碳膜 中性产物 负离子产物 电荷交换过程 电子损失 原子碰撞 

分 类 号：O562.5[理学—原子与分子物理]