MCT晶体非平衡载流子寿命测量方法  

作　　者：邵式平[1] 杨彦[1] 

机构地区：[1]昆明物理研究所

出　　处：《红外技术》1989年第4期37-42,共6页Infrared Technology

摘　　要：非平衡载流子寿命是HgCdTe(MCT)晶体的主要性能参数之一。本文着重介绍了三种基本测量方法:直流光电导衰退法,光电导与光磁电比值法,红外吸收的光调制法。叙述了测量原理和基本测试设备,比较了三种测量方法的优缺点。

关 键 词：HGCDTE晶体 载流子 寿命 测量 

分 类 号：TN213.06[电子电信—物理电子学]