离子束诱变小麦突变体叶片的SEM观察  

SEM to Mutagenic Lamina of Wheat Implanted by Ion Beam

作　　者：张艳锋[1] 王雪青[1] 秦广雍[1] 曹刚强[1] 苏明杰[1] 王卫东[1] 刘磊安[1] 

机构地区：[1]郑州大学离子束生物工程省重点实验室,郑州450052

出　　处：《郑州大学学报（理学版）》2002年第1期25-28,共4页Journal of Zhengzhou University:Natural Science Edition

基　　金：国家"九.五"科技攻关子专题资助项目

摘　　要：利用扫描电镜对经过离子束处理小麦获得突变体的 M1代 ,M2 代 ,M3 代的叶片进行了观察分析 ,发现突变体叶片与未经注入小麦叶片的表皮毛 ,气孔大小 ,气孔密度等有一定差异 .因此 ,通过The mutant lamina of wheat of M 1, M 2, M 3 implanted by ion beam is observed. This shows that the difference between the mutant and the CK is prominent in appearance, the size and the intensity of stoma. Therefore, the SEM plays an important rule in acquisition of mutant.

关 键 词：扫描电镜 小麦叶片 离子束诱变 离子注入 诱变育种 气孔密度 气孔大小 突变体 SEM观察 

分 类 号：S512.103.5[农业科学—作物学] Q691[生物学—生物物理学]