椭偏法测厚及折射率的计算机解算  

作　　者：沙洪均 

机构地区：[1]天津大学机电分校

出　　处：《物理实验》1991年第5期222-223,221,共3页Physics Experimentation

摘　　要：WJZ型多功能激光椭圆偏振仪是在JJY型分光计上附加激光椭偏装置而组成。兼有分光计和椭偏仪的功能,可用于测量不同基底上介质薄膜的厚度和折射率;除作为高校中级物理实验外,亦可用于材料表面光学参数的分析研究。但是,与原椭偏装置相配用的椭偏仪数据表,只能适用于K_q基底上生长的氧化锆薄膜标准试样,这就实际上限制了椭偏仪的使用范围;另一方面,即使对上述标准试样测量,所获数据往往与数据表提供的数值偏离甚大,直接影响实验效果。经过多次实际试验,本文分析了三相椭偏方程解的特性,讨论了不同条件下椭偏法测厚及折射率的计算机解算。

关 键 词：椭偏法 折射率 厚度 计算机 薄膜 

分 类 号：O484.5[理学—固体物理]