微分代数在磁场分析器高阶像差分析中的应用  

Differential Algebra for High Order Aberration Analysis of Magnetic Field Analyzers

作　　者：程敏[1] 唐天同[1] 姚振华[1] 王振华[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电子与信息工程学院,西安710049

出　　处：《西安交通大学学报》2002年第6期655-656,共2页Journal of Xi'an Jiaotong University

基　　金：国家自然科学基金资助项目 (6 99710 19)

摘　　要：将微分代数引入到磁场分析器任意高阶的像差分析计算中 .对一个实际的均匀扇形磁场分析器中的三阶像差系数的微分代数数值结果和相应的解析解进行了比较 ,相对误差不高于 10 - 14 。

关 键 词：微分代数 磁场分析器 像差分析 

分 类 号：O463.1[机械工程—光学工程]