针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术  

The DFT Technology for the Memory Units in ASIC

作　　者：张民选[1] 张承义[1] 王永文[1] 高军[1] 

机构地区：[1]国防科技大学计算机学院,湖南长沙410073

出　　处：《计算机工程与科学》2002年第4期68-70,共3页Computer Engineering & Science

基　　金：国家自然科学基金重点项目资助 (6993 3 0 3 0 );国家"八六三"高技术研究发展计划基金 (863 3 0 6 ZD11 0 1 1);教育部"跨世纪优秀人才培养计划基金"资助项目 (教技函 [2 0 0 0 ] 1号文件 )

摘　　要：本文提出了一种简洁有效的、针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术 ,可消除部分不可测故障 ,提高故障覆盖率。A new,simple and effective DFT technology for the memory units in ASIC is presented in this paper to test some untestable faults and improve the fault coverage ratio.

关 键 词：ASIC 记忆部件 易测试性设计 专用大规模集成电路 故障覆盖率 

分 类 号：TN49[电子电信—微电子学与固体电子学]