二水平设计离散偏差和对称化L_2偏差紧的下界  

Lower Bounds to Discrete Discrepancy and Symmetric L_2 Discrepancy in Two Level Fractional Factorial Designs

作　　者：李洪毅[1,2] 黎奇升[2] 欧祖军[2] 

机构地区：[1]吉首大学师范学院,湖南吉首416000 [2]吉首大学数学与统计学院,湖南吉首416000

出　　处：《吉首大学学报（自然科学版）》2014年第3期20-22,共3页Journal of Jishou University(Natural Sciences Edition)

基　　金：国家自然科学基金项目(11201177);湖南省教育厅科研项目(12C0287);湖南省教育厅优秀青年项目(14B146);吉首大学校级科研项目(13JDY041);吉首大学学成返校博士科研项目(JSDXXCFXBSKYXM201113)

摘　　要：基于现有的均匀性测度公式,利用Langrange乘数法和Taylor公式得到二水平设计离散偏差和对称化L2偏差紧的下界,最后通过2个例子来验证其结论.On the basis of existing formula of uniformity measurement and using the Langrange multiplier method and the formula of Taylor, the tight lower bounds to discrete discrepancy and symmetric L2 discrepancy of two level fractional factorial designs are obtained. Finally, two examples are given to illustrate the results.

关 键 词：均匀设计 U型设计 离散偏差 对称化L2偏差 下界 

分 类 号：O212.6[理学—概率论与数理统计]