基于LabVIEW的高精密I／F转换测试系统  

作　　者：陈锋[1] 尹宏程 丁旭明[1] 

机构地区：[1]北方通用电子集团有限公司微电子部,蚌埠233042

出　　处：《集成电路通讯》2014年第3期42-44,共3页

摘　　要：针对某高精密双向I／F转换电路测试时，由于人为的时间控制误差大而导致测试出的零偏和线性度一致性很差的问题，设计了一种基于LabVIEW的高精密双向I／F转换的测试系统，该系统采用LabVIEW平台，通过测试系统的通信接口可实现测试时对过程控制及数据的分析和储存，实现了高精密双向I／F转换电路参数的自动测试及对采集到的数据的自动计算，大大提高了测试的精度和效率。

关 键 词：LABVLEW I/F转换 零偏 线性度 

分 类 号：TP277[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]