环形共光路点衍射干涉仪  

Circular common-path point-diffraction interferometer

作　　者：吴亚琴[1] 白福忠[1] 刘珍[1] 田枫[1] 顾乃庭[2] 

机构地区：[1]内蒙古工业大学机械学院,呼和浩特010051 [2]中国科学院光电技术研究所,成都610209

出　　处：《光学技术》2014年第5期421-424,共4页Optical Technique

基　　金：国家自然科学基金(61108038);内蒙古自然科学基金(2011BW0701);教育部"春晖计划"科研项目(Z2011069);内蒙古工业大学科研基金项目(X201010)资助

摘　　要：建立了一种基于偏振掩膜板与环形共路结构的点衍射干涉仪,通过旋转偏振片可以改变参考光与测试光之间的相对光强,实现干涉条纹对比度的调节,能够获得最高对比度的干涉条纹,并且针对条纹对比度进行了详细的理论分析;由于系统中线性载频幅度极易调节,可以有效地改善傅里叶变换法的相位提取精度;验证性实验被完成。A point-diffraction interferometer is established,which is based on a polarizing mask and the circular common-path setup.The fringe visibility can be adjusted by rotating the polarizer to change the relative intensities between the test and the reference beams.The fringe pattern with the highest visibility is acquired,and the fringe visibility is also analyzed theoretically in detail.The linear carrier frequency may be easily adjusted in the optical system,so the extraction accuracy of the Fourier-transform method is effectively improved.A validated experiment is accomplished.

关 键 词：点衍射干涉仪 光学测量 环形共路结构 条纹对比度 傅里叶变换法 

分 类 号：O439[机械工程—光学工程]