325MHz超导腔输入耦合器镀铜层厚度的实验研究  

Copper layer thickness for 325 MHz superconducting cavity input couplers

作　　者：陈旭[1,2] 谷魁祥 彭应华 马强[2] 黄彤明[2] 林海英[2] 潘卫民[2] 

机构地区：[1]中国科学院大学物理学院,北京100049 [2]中国科学院高能物理研究所加速器中心,北京100049

出　　处：《强激光与粒子束》2014年第12期245-248,共4页High Power Laser and Particle Beams

基　　金：中国科学院战略性先导科技专项项目(XDA03020800)

摘　　要：通过对工作在325 MHz、镀铜厚度分别为10,20,30μm的耦合器外导体进行高功率测试,研究了超导腔输入耦合器外导体内壁镀铜层厚度与漏热的依赖关系,目的在于寻找最优化的铜层厚度来降低超导腔输入耦合器的低温漏热。实验结果表明,20μm铜层的耦合器具有较低的动态损耗。综合考虑静态损耗与动态损耗,则20μm铜层厚度为最优化的铜层厚度。This article studies the relationship between the copper layer thickness of the outer conductor of superconducting cavity input coupler and the heat leak. We compared copper coatings of 10,20,30μm respectively of 325 MHz coupler through high power test and aimed to find the optimum thickness of the copper plating layer in order to decrease the cryogenic heat load . The experimental results show that 20μm layer has lower dynamic heat leak. Considering both static heat leak and dynamic heat leak, the 20μm thickness of copper layer is the optimum one.

关 键 词：超导腔 高功率输入耦合器 镀铜 漏热 

分 类 号：TL503.2[核科学技术—核技术及应用]