泰克推出面向MIPI M-PHY 3.1的测试解决方案  

出　　处：《单片机与嵌入式系统应用》2015年第1期88-88,共1页Microcontrollers & Embedded Systems

摘　　要：泰克公司推出针对MIPI联盟新批准的MIPIM—PHY3．1的物理层发射器特性检测和调试解决方案。泰克的新解决方案支持MIPIM—PHY High SpeedGears1、2和3标准及SYS模式，并可与泰克MSO／DPO70000DX示波器和P7600系列探头一起组成用于MIPIM—PHY测量的低噪声解决方案。

关 键 词：泰克公司 测试解决方案 MIPI联盟 特性检测 PHY 发射器 物理层 S模式 

分 类 号：TN830[电子电信—信息与通信工程]